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探傷機(jī)中的射線探傷方法的特點(diǎn)

點(diǎn)擊數(shù):2347發(fā)布:2022-01-10 來(lái)源: 探傷機(jī)_磁粉探傷機(jī)_退磁機(jī)_射陽(yáng)縣天源探傷設(shè)備制造廠

射線探傷方法是探傷機(jī)中五大常規(guī)探傷方法之一,探傷機(jī)中的射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來(lái)探傷的方法。
常用于探傷機(jī)探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線,分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(guò)物質(zhì)時(shí),該物質(zhì)的密度越大,射線強(qiáng)度減弱得越多。因此,用射線來(lái)照射待探傷的零部件時(shí),若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷,射線穿過(guò)有缺陷的路徑比沒(méi)有缺陷的路徑所透過(guò)的物質(zhì)密度要小得多,其強(qiáng)度就減弱得少些,即透過(guò)的強(qiáng)度就大些,若用底片接收,則感光量就大些,就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影;若用其它接收器也同樣可以用儀表來(lái)反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過(guò)量。
一般情況下,探傷機(jī)中的射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的,或者說(shuō),探傷機(jī)中的射線探傷對(duì)裂紋是不敏感的。因此,探傷機(jī)中的射線探傷比較適用于體積型缺陷探傷。
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